場(chǎng)發(fā)射掃描式電子顯微鏡(FEGSEM：Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy)

使用六硼化鑭(LaB6)或奈米碳管(CNT)製作成針尖小于100nm(奈米)的奈米尖端來(lái)發(fā)射電子束(場(chǎng)發(fā)射)，奈米尖端可以使電子束的直徑縮小到 10nm(奈米)左右，請(qǐng)參考圖1-6(b)所示，其原理與掃描式電子顯微鏡(SEM)相同，如圖4-54(d)所示為場(chǎng)發(fā)射掃描式電子顯微鏡 (FEGSEM)照片，場(chǎng)發(fā)射掃描式電子顯微鏡(FESEM)的解析度更高，可以用來(lái)觀察大約10nm(奈米)的結(jié)構(gòu)，但是只能觀察物體表面的高低起伏，所以表面平整的物體無(wú)法使用。

穿透式電子顯微鏡(TEM：Transmission Electron Microscopy)

使用鎢絲來(lái)發(fā)射電子束(熱游離),生物顯微鏡，當(dāng)電子束穿透物體時(shí)，電子受到物體原子排列的影響而散射，較后投影在投影銀幕上，如圖4-55(a)所示，我們可以由電子束在投影銀幕上的二維投影圖，反過(guò)來(lái)推算物體原子的三維結(jié)構(gòu)與結(jié)晶情形。使用穿透式電子顯微鏡必須讓電子束可以「穿透」試片，因此在觀察之前必須先將試片加工研磨成小于200nm(奈米)的厚度才行，如何將試片研磨到這麼薄又不破壞物體原有的結(jié)構(gòu)是非常困難的事，將電子束在投影銀幕上的二維投影圖送入電子束偵測(cè)器，就可以得到如圖4-55(b)所示的穿透式電子顯微鏡(TEM)照片，穿透式電子顯微鏡(TEM)的解析度很高，可以用來(lái)觀察大約10nm(奈米)的結(jié)構(gòu)，而且可以分辨不同材料組成的平面物體，也可以觀察物體的橫截面。

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